ICS 31.200 L 56 中华人民共和国国家标准 GB/T35006—2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of level converter 2018-08-01实施 2018-03-15发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 35006—2018 目 次 前言 川 1 范围 规范性引用文件 2 3 术语和定义 总则 4 4.1 测试环境要求 4.2 测试注意事项 5 功能测试 5.1 目的 5.2 测试原理图 5.3 测试程序 5.4 测试条件 静态参数测试 6.1 输人钳位电压(Vik) 6.2 输高电平电压(Vm). 6.3 输入低电平电压(VL) 6.4 输出高电平电压(Von) 6.5 输出低电平电压(Vor) 6.6 输入高电平电流(IIH) 6.7 输入低电平电流(IL) 6.8 输出高电平电流(IoH) 6.9 输出低电平电流(IoL 6.10 输出高阻态时高电平电流(IoZH) 6.11 输出高阻态时低电平电流(IozL) 6.12 静态电流(IccQ) 6.13 电流偏移量(△IccQ) 6.14 输出对地短路电流(IosL) 10 6.15 输出对电源短路电流(IosH) 6.16 开启电阻(RoN) 12 6.17 通道间开启偏移电阻(△RoN) 13 动态参数测试· 7 14 7.1 电源电流(Icc) 14 7.2 最高工作频率(FMAx) 14 7.3 最低工作频率(fMIN). 15 7.4 输人电容(C,)和输出电容(Co) 16 7.5 输出由低电平到高电平传输延迟时间(tpLH) 16 7.6 输出由高电平到低电平传输延迟时间(tpHL 1 GB/T35006—2018 7.7 输出由高阻态到高电平传输延迟时间(tpzH) 18 7.8 输出由高阻态到低电平传输延迟时间(tpzL) 18 7.9 输出由高电平到高阻态传输延迟时间(tpHz) 19 7.10 输出由低电平到高阻态传输延迟时间(tpLz) 7.11 输出由低电平到高电平转换时间(tTLH) 21 7.12 输出由高电平到低电平转换时间(tTHL) 22 7.13 眼图高度(en) 23 7.14 眼图宽度(ew) 24 7.15 确定性抖动(D,) 25 7.16 随机抖动(R) 25 总抖动(J.) 26 7.17 GB/T35006—2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口。 本标准起草单位:深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息 化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司。 本标准主要起草人:宦承永、邬海忠、陆坚、魏军、王小强、罗彬。 Ⅲ GB/T 35006—2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 1范围 本标准规定了半导体集成电路电平转换器(以下称为器件)功能、静态参数和动态参数的测试方法。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 GB/T17574一1998半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 被测器件 device under test; DUT 测试过程中的被测对象。 3.2 测试适配板 loadboard 用于被测器件与自动测试系统(ATE)连接的转接板或应用测试板 3.3 参考电平 reference voltage 在测试过程中,测试系统的输入装置与输出装置固有的一个阈值电平。 3.4 眼图 eye diagram 用余辉的方式累计叠加显示采集到的串行信号的位流结果,叠加后的图形为眼孔状。 3.5 眼图高度 eyeheight 眼图在垂直方向张开的幅度。 3.6 眼图宽度 eyewidth 眼图在水平方向张开的幅度。 3.7 抖动 jitter 信号在某个时刻,相对于其理想时间位置上的短期偏离。 1 GB/T35006—2018 3.8 确定性抖动 deterministicjitter 由可识别的干扰信号造成的,该抖动幅度有限,具备非随机的产生原因。 3.9 随机抖动 random jitter 由时序或相位的无规律变化导致的抖动,可采用正态(高斯)分布进行统计。 3.10 总抖动 total jitter 随机抖动与确定性抖动之和。 4总则 4.1 测试环境要求 除另有规定外,电测试环境条件如下: 环境温度:15℃~35℃; 环境气压:86kPa106kPa; 如果环境湿度对试验有影响,应在相关文件中规定 4.2 2测试注意事项 测试期间,应遵循以下事项: 环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合相关文件的规定; b) 施于被测器件的电源电压应在规定值的土1%以内,施于被测器件的其他电参量的准确度应符 合相关文件的规定; 被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件; (p 应避免因静电放电而引起器件损伤; e) 非被测输入端和输出端是否悬空应符合相关文件的规定 5 功能测试 5.1 目的 根据规定的要求设置程序。按电平转换器的功能原理生成测试向量或真值表,通过测试系统PG 模块或信号发生器输入到被测电路,同时通过测试系统或相关仪表对输出信号比较,测试被测器件是否 达到相关文件规定的真值表要求。 5.2 测试原理图 功能测试原理图如图1所示。 SAC 2 GB/T 35006—2018 电源 输入装置 被测器件 输山装置 图1 功能测试原理图 5.3 测试程序 测试程序如下: a) 将被测器件接人测试系统中; b) 电源端施加规定的电压; c) 非被测输人端施加规定的条件; (P 被测输人端设置输人激励信号,检测相应的输出端信号是否符合相关文件规定的真值表; e) 按c)~d)的规定,分别测试每个输入端 5.4 测试条件 相关文件应规定下列条件: a) 环境或参考点温度; b) 电源电压; c) 输入端条件; d) 输出端电压。 6 静态参数测试 6.1 输入钳位电压(Vik) 6.1.1 目的 测试带有附加钳位二极管的输人端的输入钳位电压。 6.1.2 测试原理图 3

pdf文档 GB-T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法

文档预览
中文文档 30 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共30页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
GB-T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 第 1 页 GB-T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 第 2 页 GB-T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 思安 于 2023-01-25 06:01:26上传分享
友情链接
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。