说明:收录25万 73个行业的国家标准 支持批量下载
ICS 31.200 CCS L 56 中华人民共和国国家标准 GB/T 42969—2023 元器件位移损伤试验方法 Displacement damage test method for components 2024-01-01实施 2023-09-07发布 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T42969—2023 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。 本文件起草单位:中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研 究院,中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所扬州天学。 本文件主要起草人:罗磊、于庆奎、唐民、朱恒静、张洪伟、郑春、陈伟、丁李利、汪朝敏、李豫东、文林、 薛玉雄。 1

pdf文档 GB-T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

文档预览
中文文档 9 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共9页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
GB-T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法 第 1 页 GB-T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法 第 2 页 GB-T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 思安 于 2024-01-14 23:25:45上传分享
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。